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Forschung
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Werkstoffentwicklung, -prüfung und -analytik
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Ausstattung
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Laborausstattung
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Elektronen-mikroskopie
SXES Detektor
Verwendung mit der Mikrosonde vorgesehen. Das SXES ermöglicht Analysen im Niederspannungsbereich bei <1 kV, spektrales Mapping mit hoher Energieauflösung, schnelle Paralleldetektion und Analysen chemischer [...] SiLi, Kühlsystem Peltier nicht erforderlich Peltier Empfindlichkeit 20 ppm (@B) 100 ppm (@B) 0,1 % (@B) Beispiel Unterscheidung von FeB und Fe 2 B im Gefüge © Fa. Jeol SXES Mapping, chemische Zust …